SEM扫描电镜的测试图怎么看？

SEM（扫描电子显微镜）扫描电镜的测试图主要包括二次电子像（SEI）和背散射电子像（BEI），这两种图像各有其特点和观察重点。以下是如何查看SEM扫描电镜测试图的方法：

一、图像基础认知

图像类型：SEM测试图主要为灰度图像，通过不同灰度级别来展示样品表面的微观形貌或元素分布。

放大倍数：SEM图像的放大倍数可以根据需要调整，从低倍到高倍，以便观察不同尺度的细节。

二、二次电子像（SEI）观察

形貌特征：

二次电子像主要反映样品表面的微观形貌，其成像效果与自然光下观察到的形貌基本一致。

亮的区域表示样品表面凸起或高于平均平面，暗的区域则表示凹陷或低于平均平面。

观察要点：

注意观察样品表面的粗糙度、纹理、孔洞、裂纹等形貌特征。

通过对比不同区域的亮度差异，可以分析样品表面的起伏和形态特征。

三、背散射电子像（BEI）观察

元素分布：

背散射电子像主要反映样品表面的元素分布情况。由于背散射电子的产额与样品的原子序数成正比，因此亮的区域表示原子序数较高的元素，暗的区域则表示原子序数较低的元素。

观察要点：

注意观察样品表面不同元素的分布情况，特别是那些对性能有重要影响的元素。

通过分析亮暗区域的对比度和分布情况，可以推断出样品表面的元素组成和分布状态。

四、综合分析与判断

结合形貌与元素：

在实际分析中，通常需要同时观察二次电子像和背散射电子像，以便更全面地了解样品的微观结构和元素分布。

通过对比两种图像的信息，可以进一步揭示样品表面的形貌特征与元素分布之间的关系。

考虑其他因素：

在分析SEM测试图时，还需要考虑样品的制备过程、测试条件以及可能的误差来源等因素。

特别是要注意样品表面可能存在的污染、损伤或处理不当等问题，这些因素都可能对测试结果产生影响。

五、示例分析

（由于直接提供具体图像存在困难，以下通过文字描述示例分析过程）

假设有一张SEM测试图同时包含二次电子像和背散射电子像：

在二次电子像中，可以观察到样品表面存在明显的凹凸不平现象，以及一些微小的孔洞和裂纹。

在背散射电子像中，则可以发现样品表面某些区域明显较亮，而其他区域则相对较暗。这些亮暗区域的分布与样品中的元素分布密切相关。

通过综合分析两种图像的信息，可以推断出样品表面的微观形貌特征以及元素分布情况，并据此对样品的性能进行评估和预测。

总之，在查看SEM扫描电镜测试图时，需要仔细观察图像中的形貌特征和元素分布情况，并结合其他相关信息进行综合分析和判断。