你知道用SEM扫描电镜观察粉末样品需要注意什么吗？

随着科学技术的不断发展，越来越多的领域，特别是材料领域需要精确了解各种材料的微观 形貌和组织结构，采用扫描电镜对其进行表征具有重要意义。

用SEM扫描电镜观测样品涉及3方面的因素:

1）扫描电镜本身分辨率的高低，分辨率越高，观测到样品的微观组织形貌就越清楚。

2）放大倍数与粉末颗粒的尺寸要匹配。对于颗粒尺寸较小的样品，需放大上千乃至上万倍才能清晰的观测出微观组织，但是对于尺寸较大的样品只需放大很小的倍数就可以了。

3）样品的制备也至关重要，它直接影响到拍摄照片的清晰度。

粉末的颗粒形状、颗粒大小及组成、颗粒表面的微观形貌组织、内部结构等粉末特性是重要的物理性能"。在生产中，- -般只测定粉末颗粒的大小及百分比组成，*常用的方法有筛分法、显微镜法、气体透过法、气体吸附法、X射线衍射法和SEM扫描电镜法等，其中扫描电镜法对研究粉末的各种复杂结构与性能具有独特的优势和特点，尤其是在观测样品的颗粒形状、颗粒大小和颗粒表面的微观形貌时,既方便又直观。但是，粉末所具有的特性有时严重影响颗粒的观察和测量。对于超细粒子的材料来说，由于其具有较大的吉布斯自由能，粒子之间有较强的自发聚集趋势，很容易形成团聚，严重影响颗粒的观测。因此，利用SEM扫描电镜研究粉末的很重要一步在于制备出既没有颗粒团聚、又有一定密度，图像清晰的样品。