SEM扫描电镜可以观察纳米材料、观察材料断口、观察大试样的原始表面、观察厚试样

扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。SEM扫描电镜还具有很多优越的性能，是用途z为广泛的一种仪器。

扫描电镜观察纳米材料

所谓纳米材料，是指材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保持表面清洁的条件下，通过压制形成的固体材料纳米材料具有许多不同于晶态和非晶态的物理和化学性质纳米材料具有广阔的发展前景，将成为未来材料研究的重点SEM扫描电镜的一个重要特点是分辨率高现在它被广泛用于观察纳米材料。

扫描电镜观察材料断口

SEM扫描电镜的另一个重要特点是景深大，图像立体扫描电镜的透射电镜是光学显微镜的10倍由于图像景深较大，获得的扫描电子图像具有三维感强、形状三维等特点，比其他显微镜能提供更多的信息，对用户有很大的价值SEM扫描电镜所表明断裂形态从深层和高景深的角度反映了材料断裂的性质，在教学科研和生产中具有不可替代的作用，是材料断裂原因分析、事故原因分析、工艺合理性确定等方面的有力工具。

扫描电镜观察大试样的原始表面

扫描电子显微镜可以直接观察直径为100毫米、高度为50毫米或更大尺寸的样品，不受样品形状的限制，也可以观察到粗糙的表面，避免了样品制备的麻烦并能真实观察样品本身不同物质成分的对比度(背反射电子图像)。

SEM扫描电镜观察厚试样

扫描电镜可以获得高分辨率和z真实的厚样品形貌扫描电子显微镜的分辨率介于光学显微镜和透射电子显微镜之间，但在比较厚样品的观察时，由于透射电子显微镜也采用层压法，层压的分辨率通常只有10nm，而且观察的不是样品本身。因此，用SEM扫描电镜观察厚样品，获得样品的真实表面数据更为有利。

由于扫描电镜具有上述特点和功能，SEM扫描电镜越来越受到研究者的重视，得到了广泛的应用目前，扫描电镜已广泛应用于材料科学(金属材料、非金属材料、纳米材料)、冶金、生物学、医药、半导体材料及器件、地质勘探、病虫害防治、灾害(火灾、失效分析)鉴定、刑事侦察、宝石鉴定等领域工业生产中的产品质量鉴定和生产过程控制等。