为什么sem扫描电镜不能测试具有磁性的粉末样品，而对块状样品则没有做过多的强调？

铁磁性，顺磁性，逆磁性估计是不用我再科普了。反铁磁性，亚铁磁性在电子光学领域，不用深入研究。我们强调一个概念。没有什么材料，不能用电镜测试。磁性粉末，可以。高分子，也没问题。解答问题之前，先让我让我说几个都称不上实验安全原则和实验规范的道理吧。

1.你为什么要做？换到实验上来说，这个实验，你为什么要做？

做事，自然是满足自己，对自己有好处才做。做实验，自然能出表征结果，才去做扫描电镜。（试错也是实验结果之一）

2.会不会有风险？换到实验上来说，也就是做这个实验，会不会造成人身财产损失？

做什么事没有风险？换到实验上，也是一样。用sem扫描电镜，自然是可能对大型仪器设备造成损坏了。

3.如果有风险，风险是否能够规避或者降低？如果不能规避或降低，那投入和产出是否成正比？

我们都在寻找减小风险的方案。如果目前还是摸着石头过河，那可能造成的不良后果，我们早早也就做好心理建设了。

回到问题上来。为什么扫描电镜不能测试具有磁性的粉末样品？（至少题主，亦或是题主的老师什么的，强调过不能。）

咱还是按照前三个方面分析这件事。

1.为什么要用sem扫描电镜表征磁性样品？是为了看到磁筹？还是表征粒度？不得而知。强调磁性粉末，那自然是顺磁性样品。但是，考虑到磁场与电子束的相互作用。二次电子，被散射电子，都是经过样品磁场扭曲后，才被探头接收后成像的。所以，像普遍都是失真的。

2.用扫描电镜表征磁性粉末，会不会有什么不良后果？这自然是有的。sem扫描电镜都有合适的工作距离。样品距离所谓极靴越近，自然分辨能力就越高。考虑到电子枪发射出的电子，一般由磁场汇聚。那当你的样品，也就是磁性粉末，距离极靴强磁场越近，那自然可能会被吸附到极靴上。之后，电子束有可能会汇聚不良，有可能不会，这取决于样品磁性大小，吸附位置等。

3.重头戏来了。能不能不让样品被吸附到极靴上？如果吸附上了，那后果你能不能接受？

尽可能不被吸附到极靴上，自然可以。可以利用包埋，镶样来避免样品被吸上。同时增大工作距离。但是带来的后果是，处理过的样品，和你原始的样品理化性质不能说完全不一样，也是不尽相同。增大工作距离，分辨能力下降。

如果不幸吸附上了，拆机、清理是少不了。但可能清理不干净。精密仪器拆解过，重新安装，总会有些许误差。

这些风险你如果都能接受，没问题。但是，你能接受的，分管仪器设备的人员，他不一定能接受。再考虑到顺磁性样品图像失真，这实验结果，你都不一定能接受，更何况你还得承担风险。

块状样品就占了个不容易被吸到极靴上的优势，但不容易不代表不会被吸到极靴上。顺磁，块状一样的失真……