台式扫描电镜在纳米材料中的应用介绍

台式扫描电镜是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态。sem扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

台式扫描电镜是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。sem扫描电镜可以直接观察观察纳米材料，进行材料断口的分析，直接观察原始表面等。

sem扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。试样制备简单，目前的sem扫描电镜都配有X射线能谱仪装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析（即SEM－EDS），因此它是当今十分重要的科学研究仪器之一。

所谓纳米材料，是指材料的颗粒或微晶尺寸在0.1－100nm范围内，在保持表面清洁的条件下，通过压制形成的固体材料纳米材料具有许多不同于晶态和非晶态的物理和化学性质纳米材料具有广阔的发展前景，将成为未来材料研究的sem扫描电镜的一个重要特点是分辨率高现在它被广泛用于观察纳米材料。

台式扫描电镜可以直接观察直径为100毫米、高度为50毫米或更大尺寸的样品，不受样品形状的限制，也可以观察到粗糙的表面，避免了样品制备的麻烦并能真实观察样品本身不同物质成分的对比度（背反射电子图像）。