SEM扫描电镜的基本影响要素（二）

上一篇文章介绍了影响扫描电镜的基本影响要素一：分辨率，下面台式扫描电镜的小编介绍其他3个影响要素。

1，放大倍数

SEM扫描电镜的放大倍数可表示为M =Ac/As式中，Ac—荧光屏上图像的边长；As—电子束在样品上的扫描振幅。一般地，Ac 是固定的(通常为100 mm)，则可通过改变As 来改变放大倍数。

目前，大多数扫描电镜放大倍数为20～20,000倍，介于光学显微镜和透射电镜之间，即SEM扫描电镜弥补了光学显微镜和透射电镜放大倍数的空挡。

2，景深

景深是指焦点前后的一个距离范围，该范围内所有物点所成的图像符合分辨率要求，可以成清晰的图像；也即，景深是可以被看清的距离范围。

扫描电镜的景深比透射电子显微镜大10倍，比光学显微镜大几百倍。由于图像景深大，所得扫描电子像富有立体感。

3，衬度

衬度包括：表面形貌衬度和原子序数衬度。

表面形貌衬度由试样表面的不平整性引起。

原子序数衬度指扫描电子束入射试祥时产生的背散射电子、吸收电子、X射线，对微区内原子序数的差异相当敏感。原子序数越大，图像越亮。二次电子受原子序数的影响较小。高分子中各组分之间的平均原子序数差别不大。所以只有—些特殊的高分子多相体系才能利用这种衬度成像。

上述内容就是台式扫描电镜的小编介绍的SEM扫描电镜的基本影响要素二。更多关于扫描电镜的其他问题欢迎咨询小编。