扫描电镜

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微仪光电（天津）有限公司是一家集显微镜、显微镜自动化、显微专用摄像系统及图像分析系统的研发、生产及销售为一体的多元化高科技企业。公司拥有一支专业从事显微仪器应用技术研究，新产品新技术开发的工程技术团队。在传统光学显微成像技术上融入了摄像计算机分析系统及机械自动化系统，不断开发出能满足科研教学、机械制造、电子材料、纺织纤维、地质矿产、石油化工、航空航天、计量科学、军事公安、农林牧渔等几乎所有应用领域进行研究分析的新产品和新技术。致力于向客户提供原位透射电镜解决方案、台式扫描电镜,扫描电镜,台式扫描电镜能谱一体机,sem扫描电镜,原位扫···

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专业从事电子显微镜及电镜附件的厂家，坚持客户至上，诚信服务，携手共赢

新闻中心

NEWS

2025-04-02

SEM扫描电镜：半导体全链条质量管控的“纳米之眼”

在半导体产业向3nm、2nm制程冲刺的今天，每一道工艺环节都需达到原子级精度。作为材料分析领域的“老兵”，扫描电镜凭借其纳米级分辨率、大景深三维成像及快速样品制备优势，已深度渗透到半导体研发、制造、封装与失效分析的每个环节。本文将结合产业实际需求，解析SEM扫描电镜在半导体全链条中的核心应用场景。...

2025-04-01

SEM扫描电镜中的荷电效应及消除办法全解析

扫描电镜作为材料表征的“金标准”，在纳米科技、生物医学等领域发挥着不可替代的作用。然而，面对绝缘体或导电性差的样品时，荷电效应常成为制约图像质量的“拦路虎”。本文将深度解析荷电效应的原理、影响，并提供系统化的消除策略。一、荷电效应：成因与本质 1. 成因解析电子束与样品的“失衡”：当高能电子束轰击样品表面时，若样品导电性不良（如高分子材料、陶瓷），入射电子无法及时导走，导致表面电荷积累。...

2025-03-31

样品导电性对SEM扫描电镜成像的影响指南

扫描电镜作为材料表征的“纳米之眼”，其成像质量却常被一个易被忽视的因素左右——样品的导电性。电荷积累引发的图像漂移、热损伤导致的形貌失真、甚至信号噪声比下降，70%的SEM扫描电镜成像问题均与样品导电性处理不当有关。本文将从物理机制、实战挑战、解决方案三个维度，深度解析导电性对扫描电镜成像的影响及优化策略。...

2025-03-28

SEM扫描电镜拍摄难题全攻略：从图像模糊到样品损伤的实战解决方案

作为材料表征的"电子眼"，扫描电镜在纳米科技、生物医疗、刑侦鉴定等领域发挥着不可替代的作用。然而，在实际操作中，70%的操作者曾遭遇图像质量不佳、样品损伤等棘手问题。...

2025-03-27

SEM扫描电镜有那些工作模式

扫描电镜是一种利用聚焦电子束扫描样品表面，通过检测电子与样品相互作用产生的信号来成像的分析工具。其工作模式多样，以下为您详细介绍：一、基本工作原理 SEM扫描电镜通过电子枪发射高能电子束（加速电压通常为1-30 keV），经电磁透镜聚焦成纳米级探针，在扫描线圈作用下逐点扫描样品表面。...

2025-03-26

SEM扫描电镜拍摄条件是什么样的

扫描电镜通过聚焦电子束扫描样品表面，收集二次电子、背散射电子等信号成像，其拍摄条件直接影响成像质量和分辨率。以下是关键条件的详细解析及优化策略：一、核心拍摄条件 1. 加速电压范围：1 kV（低电压）~30 kV（高电压）。选择依据：...

2025-03-25

SEM扫描电镜的材料分析法更适用那些行业使用

扫描电镜通过聚焦电子束与样品相互作用产生的信号（如二次电子、背散射电子），结合能谱分析（EDS），实现对材料微观形貌、成分及结构的**表征。其高分辨率（纳米级）、大景深、多功能性等技术优势，使其在以下行业中成为不可替代的分析工具：一、材料科学领域核心应用：微观结构解析与性能优化金属材料：观察晶粒尺寸、位错分布、相变机制，分析断裂模式及表面磨损。例如，研究马氏体不锈钢回火过程中α相演变，优化热处理工艺。陶瓷材料：分析显微结构、气孔分布、晶界特性。案例显示，MgO掺杂可抑制SrTiO₃陶瓷晶粒生长，提升介电性能。...

2025-03-24

SEM扫描电镜的几个常见误区介绍

1.扫描电镜图像是真实颜色的? SEM扫描电镜产生的图像是黑白的，因为它们是通过电子与样品相互作用的结果，而非光波。人们通常看到的彩色扫描电镜图像是后期通过数字着色技术加工的，用以区分不同结构或增强视觉效果。...

2025-03-21

教你拍出高质量的SEM扫描电镜图：扫描电镜参数的调整方法

拍出高质量的SEM扫描电镜图片除了主观因素及操作熟练度和样品制备方面的问题外，更主要的还需要对扫描电镜的各种参数进行调试，已达到想要的效果，今天就跟大家介绍下如何对扫描电镜的各种部件参数进行调整。01：加速电压 1.**分辨率**: -般来说，加速电压越高，电子束的穿透能力越强，能够激发更深层次的信号，但同时也可能导致电子束在样品内部散射加剧，降低图像的橫向分辨率。...

2025-03-20

SEM扫描电镜各工作模式选择原则是什么

SEM（Scanning Electron Microscope）即扫描电子显微镜，其各工作模式的选择原则主要取决于所需的分析类型、样品的特性以及实验的具体要求。以下是对SEM扫描电镜各工作模式选择原则的详细阐述：一、基本工作模式扫描电镜的基本工作模式主要基于其成像原理，即利用聚焦的高能电子束在固体样品表面产生各种信号，这些信号揭示了样品的信息，包括外部形态（纹理）、化学成分，以及构成样品的材料的晶体结构和取向。...

2025-03-19

SEM扫描电镜拍摄条件选择介绍

扫描电镜的原理：由电子枪发出的电子束在电场的作用下加速，经过三个透镜聚焦成直径为5nm或更细的电子束。该电子束在样品表面进行逐行扫描，激发样品产生出各种物理信号。信号探测器收集这些并按顺序、成比例地转换为视频信号。通过对其中某种信号的捡测，视频放大和信号处理，*终在显示屏上获得能反映样品表面特征的扫描图象。...

2025-03-18